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扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
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产品简介

lexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。

· 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率

· 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质

· 全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力

· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位

· 大直径(30毫米2)无氮EDS检测器,可快速进行元素分析*2

产品参数

项目

内容

分辨率*3

4.0 nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式)
15.0 nm(二次电子像、加速电压:1 kV、高真空模式)
5.0 nm(背散射电子像、加速电压:20 kV、低真空模式)

加速电压

0.3 kV~20 kV

倍率

×6~×300,000 (照片倍率)
×16~×800,000 (显示器显示倍率)

低真空设置

6~100 Pa

电子枪

集中灯箱(Pre-Centered Cartridge Filament)

样品台

3轴马达驱动样品台
X:0~50 mm、Y:0~40 mm、Z:5~15 mm
T:-15~90°、R:360°
最大可观察范围:直径64mm(R联用)*4

最大样品尺寸

直径80 mm(选配:直径153mm)

最大样品高度

40 mm

尺寸

机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm
电源盒:450(宽度)×640(进深)×450(高度) mm

选项

· 高敏感度低真空检测器(UVD2.0)

· 能量色散型X射线检测器(EDS)

软件

Multi Zigzag(连续视野图像导入功能)

 

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