lexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。
· 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率
· 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质
· 全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位
· 大直径(30毫米2)无氮EDS检测器,可快速进行元素分析*2
项目 |
内容 |
分辨率*3 |
4.0 nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式) |
加速电压 |
0.3 kV~20 kV |
倍率 |
×6~×300,000 (照片倍率) |
低真空设置 |
6~100 Pa |
电子枪 |
集中灯箱(Pre-Centered Cartridge Filament) |
样品台 |
3轴马达驱动样品台 |
最大样品尺寸 |
直径80 mm(选配:直径153mm) |
最大样品高度 |
40 mm |
尺寸 |
机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm |
选项 |
· 高敏感度低真空检测器(UVD2.0) · 能量色散型X射线检测器(EDS) |
软件 |
Multi Zigzag(连续视野图像导入功能) |